エイキット株式会社・分析サービス事業部
表面・断面観察の受託サービス｜温度・湿度を変化させならがら製品に負荷する事で製品の耐性を調査します

■表面・断面観察サービス

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■表面・断面観察　サービス概要

表面・断面観察サービスの概要

試料の色合い、凹凸、隙間、構造、結晶、組成、欠陥などの情報を正確に得るためには、試料状態や観察目的によって観察の設備・方法を適切に選択する必要があります。

本サービスでは金属顕微鏡、デジタルマイクロスコープ（CCD）、走査電子顕微鏡（SEM/FE-SEM）、透過電子顕微鏡（TEM/STEM）等を使用しまして、調査目的に合った観察データをご提供致します。

また、観察する際の試料調整（切断、断面研磨、エッチング等）はもちろんのこと、分析から評価試験まで一連の評価業務を実施しております。

表面・断面観察サービスの詳細

◆光学顕微鏡観察サービス

金属顕微鏡やデジタルマイクロスコープ（CCD）などの光学顕微鏡を用いて、金属組織の観察や形態観察、寸法測定などを行うことが可能です。（※対応倍率：～3,000倍）
　　　　
◆走査電子顕微鏡観察サービス

SEM（汎用型走査電子顕微鏡）やFE-SEM（電界放射型走査電子顕微鏡）を用いて、試料表面の凹凸状態や組成の分布、結晶粒子の形状などを高倍率にて観察することができます。（※対応倍率：～約200,000倍）
付属するエネルギー分散型分析装置（EDX）にて、SEM観察を行いながら元素分析を行うことも可能です。
　　　　　　　
◆STEM観察サービス

STEM（走査型透過電子顕微鏡）を用いて、超高倍率（原子レベルまで）での試料断面の構造や組成などの観察を行うことが可能です。

◆TEM観察サービス　

TEM（透過電子顕微鏡）を用いて、超高倍率（原子レベルまで）での合金層・薄膜の観察や、結晶解析などを行うことが可能です。
付属するEDXやEELSにより、同じく超高倍率での元素分析や化学結合状態分析を行うことも可能です。

 

■表面・断面観察　サービス一覧

 

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