■表面・断面観察装置
■表面・断面観察装置 サービス概要
試料の色合い、凹凸、隙間、構造、結晶、組成、欠陥などの情報を正確に得るためには、試料状態や観察目的によって観察の設備・方法を適切に選択する必要があります。
本サービスでは金属顕微鏡、デジタルマイクロスコープ（CCD）、走査電子顕微鏡（SEM/FE-SEM）、透過電子顕微鏡（TEM/STEM）等の表面・断面観察装置を使用しまして、調査目的に合った観察データをご提供致します。
また、観察する際の試料調整（切断、断面研磨、エッチング等）はもちろんのこと、分析から評価試験まで一連の評価業務を実施しております。
表面・断面観察装置の詳細
◆金属顕微鏡
金属顕微鏡は試料断面の金属組織やボイド・クラック等の観察を行うことが可能です。また寸法測定の実施も可能です。（※対応倍率：～1,000倍）
◆デジタルマイクロスコープ（CCD）
デジタルマイクロスコープ（CCD）は試料表面・断面の色合いや凹凸状態を正確に観察することができ、観察だけでなく寸法測定・面積計算や凹凸の3D表示を行うことも可能です。（※対応倍率：～3,000倍）
◆走査電子顕微鏡観察（SEM/FE-SEM）
SEM（汎用型走査電子顕微鏡）・FE-SEM（電界放射型走査電子顕微鏡）を用いて、試料表面の凹凸状態や組成の分布、結晶粒子の形状などを高倍率にて観察することができます。（※対応倍率：～約200,000倍）
付属するエネルギー分散型分析装置（EDX）にて、SEM観察を行いながら元素分析を行うことも可能です。
◆STEM（走査型透過電子顕微鏡）
STEM（走査型透過電子顕微鏡）を用いて、超高倍率（原子レベルまで）での試料断面の構造や組成などの観察を行うことが可能です。
◆TEM（透過電子顕微鏡）
TEM（透過電子顕微鏡）を用いて、超高倍率（原子レベルまで）での合金層・薄膜の観察や、結晶解析などを行うことが可能です。
付属するEDXやEELSにより、同じく超高倍率での元素分析や化学結合状態分析を行うことも可能です。
■表面・断面観察装置 設備紹介
- 金属顕微鏡
- マイクロスコープ
- 走査電子顕微鏡（SEM/FE-SEM）
- 走査プローブ顕微鏡（SPM）
- STEM
- TEM