
■試料調整設備一覧
試料調整設備
試料調整装置の概要
各種の観察・分析の前に必要とされる、切断・樹脂包埋・断面研磨・エッチング・蒸着・薄膜加工・試料溶解などの試料調整を実施致します。
特に研磨に関しましては、様々な材質・形状・目的に合った手法にて研磨が可能ですので、まずはご相談下さい。
観察・分析をお客様にて実施される場合、試料調整のみを行って、試料を納品させていただくことも可能です。
試料調整装置の詳細
◆断面サンプル作製装置
断面方向からの金属顕微鏡観察やSEM観察、元素分析などの前処理としまして、試料を切断・樹脂包埋・研磨・エッチングを行います。
はんだ接合部の断面観察・分析、溶接部の金属組織観察、異物の断面観察・分析、複数部品の組付け品の内部構造の確認など、様々な用途にご利用可能な断面研磨を実施致します。
◆TEM用薄膜試料作製装置
TEM解析に使用する試料は非常に薄く加工する必要がありますが、その薄膜試料の作製方法には評価の目的や、試料の材質・構造・狙い位置などにより、いくつかの手法を使い分ける必要があります。
エイキットではFIB、ミクロトーム、イオンミリングなど幅広いご対応が可能ですので、より最適な加工方法をご提案させていただきます。
◆分析用試料調整装置
各種分析の前処理には装置毎で必要とされる試料調整を行うことが不可欠です。ガラスビード作製・溶解・分解・凍結粉砕・乾燥などの各種の分析用試料調整を実施致します。
試料調整設備 一覧
断面サンプル作製装置
TEM用薄膜試料作製装置
- FIB加工観察装置
- イオンビーム薄膜加工機
- ミクロトーム
分析用試料調整装置
- 蛍光X線分析用ビードサンプラー
- 抵抗加熱式石英管燃焼-インピンジャー捕集
- 凍結粉砕
- 凍結乾燥











